核心部件老化:像平板探測(cè)器,它是將 X 射線轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)生成圖像的關(guān)鍵部件。其內(nèi)部組件高度集成,非晶態(tài)氧化硅晶體管物理性質(zhì)不穩(wěn)定,易受光照、溫度影響而老化。使用中,探測(cè)器陣列的探測(cè)器單元會(huì)老化,如非晶硅平板探測(cè)器的光電二極管,使用久了量子效率降低,對(duì) X 射線轉(zhuǎn)換能力變?nèi)?,圖像對(duì)比度和清晰度受影響。頻繁使用還可能使部分單元故障,出現(xiàn)像素點(diǎn)失效,影響診斷。通常,非晶硅平板探測(cè)器正常使用 5 - 8 年后,老化問題逐漸明顯。同時(shí),平板探測(cè)器的電路系統(tǒng),負(fù)責(zé)放大、處理和傳輸電信號(hào),電子元件長(zhǎng)期通電,受溫度、電壓波動(dòng)影響老化,進(jìn)而影響探測(cè)器整體性能。
使用頻率和強(qiáng)度:使用頻率高、強(qiáng)度大的設(shè)備,關(guān)鍵部件損耗快。若醫(yī)院患者多,DR 設(shè)備每天曝光次數(shù)多,X 射線管、探測(cè)器等頻繁工作,老化速度加快,縮短整體使用壽命。以市級(jí)醫(yī)院為例,日均曝光 50 次以上,設(shè)備某些部件壽命可能縮短,如 DR 球管壽命可能只有 8 年左右。而小型門診或社區(qū)醫(yī)院,日均曝光 20 次以下,設(shè)備使用強(qiáng)度低,使用壽命可能延長(zhǎng),甚至有設(shè)備能超 10 年,曾有 30 年前的 X 光機(jī)仍可正常工作。
設(shè)備質(zhì)量和品牌:知名品牌、質(zhì)量可靠的 DR 設(shè)備,采用先進(jìn)技術(shù)和優(yōu)質(zhì)材料制造,設(shè)計(jì)和制造時(shí)考慮了較長(zhǎng)使用壽命。這類設(shè)備在穩(wěn)定性、耐用性上更出色,可能達(dá)到 10 - 15 年甚至更久,如一些國(guó)際知名品牌的高端 X 線機(jī)設(shè)備。相反,質(zhì)量不過關(guān)的設(shè)備,使用中易出故障,使用壽命短。
維護(hù)保養(yǎng)情況:定期專業(yè)的維護(hù)保養(yǎng)能讓設(shè)備性能穩(wěn)定,延長(zhǎng)使用期限。維護(hù)工作包括按規(guī)定時(shí)間間隔清潔設(shè)備,防止灰塵影響成像;校準(zhǔn)設(shè)備,確保成像準(zhǔn)確;檢查部件磨損情況,及時(shí)更換老化或損壞零部件。缺乏維護(hù)的設(shè)備,可能 8 年甚至更短時(shí)間就因故障無法正常使用。
使用環(huán)境條件:適宜的使用環(huán)境可減慢設(shè)備老化。溫度、濕度適宜,潔凈度高,無強(qiáng)電磁干擾,電源穩(wěn)定,能減少對(duì)設(shè)備電子元件、機(jī)械部件的損害。環(huán)境惡劣則相反,高溫潮濕易使電路短路、腐蝕;灰塵大影響成像;強(qiáng)電磁干擾導(dǎo)致信號(hào)失真、圖像出現(xiàn)條紋;電源波動(dòng)大損害電子元件。比如,環(huán)境溫度超 40℃,探測(cè)器噪聲水平增加,圖像質(zhì)量變差;相對(duì)濕度超 80%,探測(cè)器內(nèi)部易短路、腐蝕 。